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Modellierung Nanoelektronischer Halbleiter Bauelemente

Modeling of Nanoelectronic Semiconductor Devices

Hans Kosina (ORCID: 0000-0003-1616-4942)
  • Grant-DOI 10.55776/P17285
  • Förderprogramm Einzelprojekte
  • Status beendet
  • Projektbeginn 01.04.2004
  • Projektende 30.04.2007
  • Bewilligungssumme 154.570 €
  • Projekt-Website

Wissenschaftsdisziplinen

Elektrotechnik, Elektronik, Informationstechnik (70%); Informatik (30%)

Keywords

    Nanoelectronics, Quantum Transport, MOSFET, Device Simulation, Wigner equation, Monte Carlo method

Abstract Endbericht

Die agressive Skalierung des MOSFET, die voraussichtlich bis zu Gatelängen unter 20 nm voranschreiten wird, setzt neue Herausforderungen an die theoretische Beschreibung und das Verständnis des Stromleitungs- Mechanismus. Durch die Quantisierung der Ladungsträger werden einerseits die elektrostatische Ladungssteuerung und andererseits die Transporteigenschaften des Kanals verändert. Die wesentlichsten Quanteneffekte sind die Einschränkung im Kanal und das Tunneln in Kanal-Längsrichtung. Beide Effekte liegen außerhalb des Gültigkeitsbereichs von heutigen Simulationsmethoden, die auf der halbklassischen Boltzmanngleichung basieren. Es müssen daher neue Simulationsmethoden für die korrekte Beschreibung von nanoelektronischen Bauelementen entwickelt werden. Häufig verwendete Quantentransport-Formulierungen beruhen auf der Dichtematrix, den Nichtgleichgewichts-Greenschen Funktionen oder der Wigner Funktion. Letztere Formulierung wird in diesem Projekt verwendet. Eine kürzlich entwickelte Monte Carlo Methode zur numerischen Lösung der Wigner Gleichung interpretiert den nichtlokalen Potentialoperator als einen Qellenterm für positive und negative numerische Teilchen. Diese Monte Carlo Methode wird ausgebaut, um weitere physikalische Effekte wie Einschränkung im Kanal, eine realistische Bandstruktur, und das selbst-konsistente elektrostatische Potenzial zu berücksichtigen. Die Kanalquantisierung verändert sowohl die Streuraten als auch die Ladungsverteilung. Das vorgeschlagene numerische Modell ermöglicht die Simulation von heutigen und zukünftigen MOSFET Architekturen, die daduch charakterisiert sind, dass der Ladungstransport in sehr dünnen Halbleiterschichten und die Stromsteuerung über sehr kurze Distanzen mittels Doppel- oder Dreifach-Gateelektroden erfolgt.

Die agressive Skalierung des MOSFET, die voraussichtlich bis zu Gatelängen unter 20 nm voranschreiten wird, setzt neue Herausforderungen an die theoretische Beschreibung und das Verständnis des Stromleitungs- Mechanismus. Durch die Quantisierung der Ladungsträger werden einerseits die elektrostatische Ladungssteuerung und andererseits die Transporteigenschaften des Kanals verändert. Die wesentlichsten Quanteneffekte sind die Einschränkung im Kanal und das Tunneln in Kanal-Längsrichtung. Beide Effekte liegen außerhalb des Gültigkeitsbereichs von heutigen Simulationsmethoden, die auf der halbklassischen Boltzmanngleichung basieren. Es müssen daher neue Simulationsmethoden für die korrekte Beschreibung von nanoelektronischen Bauelementen entwickelt werden. Häufig verwendete Quantentransport-Formulierungen beruhen auf der Dichtematrix, den Nichtgleichgewichts-Greenschen Funktionen oder der Wigner Funktion. Letztere Formulierung wird in diesem Projekt verwendet. Eine kürzlich entwickelte Monte Carlo Methode zur numerischen Lösung der Wigner Gleichung interpretiert den nichtlokalen Potentialoperator als einen Qellenterm für positive und negative numerische Teilchen. Diese Monte Carlo Methode wird ausgebaut, um weitere physikalische Effekte wie Einschränkung im Kanal, eine realistische Bandstruktur, und das selbst-konsistente elektrostatische Potenzial zu berücksichtigen. Die Kanalquantisierung verändert sowohl die Streuraten als auch die Ladungsverteilung. Das vorgeschlagene numerische Modell ermöglicht die Simulation von heutigen und zukünftigen MOSFET Architekturen, die daduch charakterisiert sind, dass der Ladungstransport in sehr dünnen Halbleiterschichten und die Stromsteuerung über sehr kurze Distanzen mittels Doppel- oder Dreifach-Gateelektroden erfolgt.

Forschungsstätte(n)
  • Technische Universität Wien - 100%

Research Output

  • 150 Zitationen
  • 16 Publikationen
Publikationen
  • 2008
    Titel The effect of uniaxial stress on band structure and electron mobility of silicon
    DOI 10.1016/j.matcom.2007.10.004
    Typ Journal Article
    Autor Ungersboeck E
    Journal Mathematics and Computers in Simulation
    Seiten 1071-1077
  • 2008
    Titel Electron subband structure and controlled valley splitting in silicon thin-body SOI FETs: Two-band k·p theory and beyond
    DOI 10.1016/j.sse.2008.06.054
    Typ Journal Article
    Autor Sverdlov V
    Journal Solid-State Electronics
    Seiten 1861-1866
  • 2007
    Titel Theoretical Electron Mobility Analysis in Thin-Body FETs: Dependence on Substrate Orientation and Biaxial Strain
    DOI 10.1109/tnano.2007.894835
    Typ Journal Article
    Autor Sverdlov V
    Journal IEEE Transactions on Nanotechnology
    Seiten 334-340
  • 2007
    Titel Volume inversion mobility in SOI MOSFETs for different thin body orientations
    DOI 10.1016/j.sse.2007.01.022
    Typ Journal Article
    Autor Sverdlov V
    Journal Solid-State Electronics
    Seiten 299-305
  • 2007
    Titel Modeling current transport in ultra-scaled field-effect transistors
    DOI 10.1016/j.microrel.2006.03.009
    Typ Journal Article
    Autor Sverdlov V
    Journal Microelectronics Reliability
    Seiten 11-19
  • 2006
    Titel Wigner function approach to nano device simulation
    DOI 10.1504/ijcse.2006.012762
    Typ Journal Article
    Autor Kosina H
    Journal International Journal of Computational Science and Engineering
    Seiten 100
  • 2006
    Titel Current Flow in Upcoming Microelectronic Devices
    DOI 10.1109/iccdcs.2006.250826
    Typ Conference Proceeding Abstract
    Autor Sverdlov V
    Seiten 3-8
    Link Publikation
  • 2006
    Titel Strain Engineering for CMOS Devices
    DOI 10.1109/icsict.2006.306094
    Typ Conference Proceeding Abstract
    Autor Ungersboeck E
    Seiten 124-127
  • 2006
    Titel Current Transport in Nanoelectronic Semiconductor Devices
    DOI 10.1109/nanoel.2006.1609778
    Typ Conference Proceeding Abstract
    Autor Sverdlov V
    Seiten 490-495
    Link Publikation
  • 2006
    Titel Quantum Correction to the Semiclassical Electron-Phonon Scattering Operator
    DOI 10.1007/11666806_68
    Typ Book Chapter
    Autor Sverdlov V
    Verlag Springer Nature
    Seiten 594-601
  • 2011
    Titel Wigner Function Approach
    DOI 10.1007/978-1-4419-8840-9_5
    Typ Book Chapter
    Autor Nedjalkov M
    Verlag Springer Nature
    Seiten 289-358
  • 2006
    Titel Orientation Dependence of the low Field Mobility in Double- and Single-gate SOI FETs
    DOI 10.1109/essder.2006.307667
    Typ Conference Proceeding Abstract
    Autor Sverdlov V
    Seiten 178-181
  • 2006
    Titel Electron Inversion Layer Mobility Enhancement by Uniaxial Stress on (001) and (110) Oriented MOSFETs
    DOI 10.1109/sispad.2006.282834
    Typ Conference Proceeding Abstract
    Autor Ungersboeck E
    Seiten 43-46
  • 2005
    Titel Tunneling and Intersubband Coupling in Ultra-Thin Body Double-Gate MOSFETs
    DOI 10.1109/essder.2005.1546593
    Typ Conference Proceeding Abstract
    Autor Sverdlov V
    Seiten 93-96
  • 2005
    Titel Modeling Current Transport in Ultra-Scaled Field Effect Transistors
    DOI 10.1109/edssc.2005.1635288
    Typ Conference Proceeding Abstract
    Autor Sverdlov V
    Seiten 385-390
  • 2005
    Titel Quantum transport in ultra-scaled double-gate MOSFETs: A Wigner function-based Monte Carlo approach
    DOI 10.1016/j.sse.2005.07.013
    Typ Journal Article
    Autor Sverdlov V
    Journal Solid-State Electronics
    Seiten 1510-1515

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