Modellierung Nanoelektronischer Halbleiter Bauelemente
Modeling of Nanoelectronic Semiconductor Devices
Wissenschaftsdisziplinen
Elektrotechnik, Elektronik, Informationstechnik (70%); Informatik (30%)
Keywords
-
Nanoelectronics,
Quantum Transport,
MOSFET,
Device Simulation,
Wigner equation,
Monte Carlo method
Die agressive Skalierung des MOSFET, die voraussichtlich bis zu Gatelängen unter 20 nm voranschreiten wird, setzt neue Herausforderungen an die theoretische Beschreibung und das Verständnis des Stromleitungs- Mechanismus. Durch die Quantisierung der Ladungsträger werden einerseits die elektrostatische Ladungssteuerung und andererseits die Transporteigenschaften des Kanals verändert. Die wesentlichsten Quanteneffekte sind die Einschränkung im Kanal und das Tunneln in Kanal-Längsrichtung. Beide Effekte liegen außerhalb des Gültigkeitsbereichs von heutigen Simulationsmethoden, die auf der halbklassischen Boltzmanngleichung basieren. Es müssen daher neue Simulationsmethoden für die korrekte Beschreibung von nanoelektronischen Bauelementen entwickelt werden. Häufig verwendete Quantentransport-Formulierungen beruhen auf der Dichtematrix, den Nichtgleichgewichts-Greenschen Funktionen oder der Wigner Funktion. Letztere Formulierung wird in diesem Projekt verwendet. Eine kürzlich entwickelte Monte Carlo Methode zur numerischen Lösung der Wigner Gleichung interpretiert den nichtlokalen Potentialoperator als einen Qellenterm für positive und negative numerische Teilchen. Diese Monte Carlo Methode wird ausgebaut, um weitere physikalische Effekte wie Einschränkung im Kanal, eine realistische Bandstruktur, und das selbst-konsistente elektrostatische Potenzial zu berücksichtigen. Die Kanalquantisierung verändert sowohl die Streuraten als auch die Ladungsverteilung. Das vorgeschlagene numerische Modell ermöglicht die Simulation von heutigen und zukünftigen MOSFET Architekturen, die daduch charakterisiert sind, dass der Ladungstransport in sehr dünnen Halbleiterschichten und die Stromsteuerung über sehr kurze Distanzen mittels Doppel- oder Dreifach-Gateelektroden erfolgt.
Die agressive Skalierung des MOSFET, die voraussichtlich bis zu Gatelängen unter 20 nm voranschreiten wird, setzt neue Herausforderungen an die theoretische Beschreibung und das Verständnis des Stromleitungs- Mechanismus. Durch die Quantisierung der Ladungsträger werden einerseits die elektrostatische Ladungssteuerung und andererseits die Transporteigenschaften des Kanals verändert. Die wesentlichsten Quanteneffekte sind die Einschränkung im Kanal und das Tunneln in Kanal-Längsrichtung. Beide Effekte liegen außerhalb des Gültigkeitsbereichs von heutigen Simulationsmethoden, die auf der halbklassischen Boltzmanngleichung basieren. Es müssen daher neue Simulationsmethoden für die korrekte Beschreibung von nanoelektronischen Bauelementen entwickelt werden. Häufig verwendete Quantentransport-Formulierungen beruhen auf der Dichtematrix, den Nichtgleichgewichts-Greenschen Funktionen oder der Wigner Funktion. Letztere Formulierung wird in diesem Projekt verwendet. Eine kürzlich entwickelte Monte Carlo Methode zur numerischen Lösung der Wigner Gleichung interpretiert den nichtlokalen Potentialoperator als einen Qellenterm für positive und negative numerische Teilchen. Diese Monte Carlo Methode wird ausgebaut, um weitere physikalische Effekte wie Einschränkung im Kanal, eine realistische Bandstruktur, und das selbst-konsistente elektrostatische Potenzial zu berücksichtigen. Die Kanalquantisierung verändert sowohl die Streuraten als auch die Ladungsverteilung. Das vorgeschlagene numerische Modell ermöglicht die Simulation von heutigen und zukünftigen MOSFET Architekturen, die daduch charakterisiert sind, dass der Ladungstransport in sehr dünnen Halbleiterschichten und die Stromsteuerung über sehr kurze Distanzen mittels Doppel- oder Dreifach-Gateelektroden erfolgt.
- Technische Universität Wien - 100%
Research Output
- 150 Zitationen
- 16 Publikationen
-
2008
Titel The effect of uniaxial stress on band structure and electron mobility of silicon DOI 10.1016/j.matcom.2007.10.004 Typ Journal Article Autor Ungersboeck E Journal Mathematics and Computers in Simulation Seiten 1071-1077 -
2008
Titel Electron subband structure and controlled valley splitting in silicon thin-body SOI FETs: Two-band k·p theory and beyond DOI 10.1016/j.sse.2008.06.054 Typ Journal Article Autor Sverdlov V Journal Solid-State Electronics Seiten 1861-1866 -
2007
Titel Theoretical Electron Mobility Analysis in Thin-Body FETs: Dependence on Substrate Orientation and Biaxial Strain DOI 10.1109/tnano.2007.894835 Typ Journal Article Autor Sverdlov V Journal IEEE Transactions on Nanotechnology Seiten 334-340 -
2007
Titel Volume inversion mobility in SOI MOSFETs for different thin body orientations DOI 10.1016/j.sse.2007.01.022 Typ Journal Article Autor Sverdlov V Journal Solid-State Electronics Seiten 299-305 -
2007
Titel Modeling current transport in ultra-scaled field-effect transistors DOI 10.1016/j.microrel.2006.03.009 Typ Journal Article Autor Sverdlov V Journal Microelectronics Reliability Seiten 11-19 -
2006
Titel Wigner function approach to nano device simulation DOI 10.1504/ijcse.2006.012762 Typ Journal Article Autor Kosina H Journal International Journal of Computational Science and Engineering Seiten 100 -
2006
Titel Current Flow in Upcoming Microelectronic Devices DOI 10.1109/iccdcs.2006.250826 Typ Conference Proceeding Abstract Autor Sverdlov V Seiten 3-8 Link Publikation -
2006
Titel Strain Engineering for CMOS Devices DOI 10.1109/icsict.2006.306094 Typ Conference Proceeding Abstract Autor Ungersboeck E Seiten 124-127 -
2006
Titel Current Transport in Nanoelectronic Semiconductor Devices DOI 10.1109/nanoel.2006.1609778 Typ Conference Proceeding Abstract Autor Sverdlov V Seiten 490-495 Link Publikation -
2006
Titel Quantum Correction to the Semiclassical Electron-Phonon Scattering Operator DOI 10.1007/11666806_68 Typ Book Chapter Autor Sverdlov V Verlag Springer Nature Seiten 594-601 -
2011
Titel Wigner Function Approach DOI 10.1007/978-1-4419-8840-9_5 Typ Book Chapter Autor Nedjalkov M Verlag Springer Nature Seiten 289-358 -
2006
Titel Orientation Dependence of the low Field Mobility in Double- and Single-gate SOI FETs DOI 10.1109/essder.2006.307667 Typ Conference Proceeding Abstract Autor Sverdlov V Seiten 178-181 -
2006
Titel Electron Inversion Layer Mobility Enhancement by Uniaxial Stress on (001) and (110) Oriented MOSFETs DOI 10.1109/sispad.2006.282834 Typ Conference Proceeding Abstract Autor Ungersboeck E Seiten 43-46 -
2005
Titel Tunneling and Intersubband Coupling in Ultra-Thin Body Double-Gate MOSFETs DOI 10.1109/essder.2005.1546593 Typ Conference Proceeding Abstract Autor Sverdlov V Seiten 93-96 -
2005
Titel Modeling Current Transport in Ultra-Scaled Field Effect Transistors DOI 10.1109/edssc.2005.1635288 Typ Conference Proceeding Abstract Autor Sverdlov V Seiten 385-390 -
2005
Titel Quantum transport in ultra-scaled double-gate MOSFETs: A Wigner function-based Monte Carlo approach DOI 10.1016/j.sse.2005.07.013 Typ Journal Article Autor Sverdlov V Journal Solid-State Electronics Seiten 1510-1515