Optomechanische AFM-Sonde für Photothermische Sensorik

Optomechanical AFM Probe for Nanoscale Photothermal Sensing

Yide Zhang (ORCID: 0000-0002-2675-739X)

Wissenschaftsdisziplinen

Chemie (50%); Mathematik (10%); Nanotechnologie (40%)

Keywords

  • AFM-IR,
  • Optomechanical Afm Probe,
  • High Frequency Cantilever,
  • Transient Photothermal Measurement,
  • Nanoscale Thermal Metrology,
  • 2D materials
Forschungsstätte: Auslandsphase
  • Cork Institute of Technology, 24 Monate, Liam OFaolain
Forschungsstätte: Rückkehrphase